小刻度有0.01和0.001两种。 测量厚度可达50mm 部分量表采用陶瓷测头，与工作接触面为陶瓷，可延长使用寿命。另外，还有FE（材质为加硬SK4）和AT（材质为特殊镀层）可供选择 厚度计测厚仪厚度测量日本TECLOCK原装

SSS-130 是 TECLOCK 长行程型数显厚度计，相比标准款拥有更大测量行程，适合厚试样、多层材料、高回弹材料厚度检测；自带蓝牙无线传输，一键上传数据至电脑，配套免费 SmartMeasure Lite 软件做数据管理，适合实验室、产线质检。

SSS-5650 是 TECLOCK 标准系列高精度数显厚度计，专为纸张、薄膜、各类薄片工件厚度检测设计；内置蓝牙无线传输，可一键上传测量数据，搭配免费软件实现数据归档管理，适合质检实验室、产线巡检、来料检测使用。

同 SSS-540 系列，插入深度 120mm 深喉款，适合测量宽幅卷材、板材边缘较远位置厚度检测

同 SSS-540 系列，插入深度 120mm 深喉款，适合测量宽幅卷材、板材边缘较远位置厚度检测

同 SSS-540 系列，插入深度 120mm 深喉款，适合测量宽幅卷材、板材边缘较远位置厚度检测

同 SSS-540 系列，插入深度 120mm 深喉款，适合测量宽幅卷材、板材边缘较远位置厚度检测

TECLOCK SSS系列为超轻紧凑型数显测厚仪，整机仅 176g，轻便手持不易疲劳，专为纸张、薄膜、各类薄片零件厚度精密检测设计。自带蓝牙一键数据传输，搭配免费数据管理软件，轻松完成检测数据采集与记录，是质检实验室、产线现场的高效测厚工具。

TECLOCK SSS系列为超轻紧凑型数显测厚仪，整机仅 176g，轻便手持不易疲劳，专为纸张、薄膜、各类薄片零件厚度精密检测设计。自带蓝牙一键数据传输，搭配免费数据管理软件，轻松完成检测数据采集与记录，是质检实验室、产线现场的高效测厚工具。

TECLOCK SSS系列为超轻紧凑型数显测厚仪，整机仅 176g，轻便手持不易疲劳，专为纸张、薄膜、各类薄片零件厚度精密检测设计。自带蓝牙一键数据传输，搭配免费数据管理软件，轻松完成检测数据采集与记录，是质检实验室、产线现场的高效测厚工具。

TECLOCK SSS系列为超轻紧凑型数显测厚仪，整机仅 176g，轻便手持不易疲劳，专为纸张、薄膜、各类薄片零件厚度精密检测设计。自带蓝牙一键数据传输，搭配免费数据管理软件，轻松完成检测数据采集与记录，是质检实验室、产线现场的高效测厚工具。

SM-112D日本TECLOCK厚度表测厚仪原装 品牌：日本TECLOCK得乐 型号：SM-112D 最小刻度：0.01mm 测量范围：10mm 指示误差(mm)：±15um 平行度：5um 表盘刻度：0-50-100 测量力：2.5以下 测头形状：Φ10平型 测砧形状：Φ10平型

SM-112AT日本TECLOCK厚度表测厚仪原装 品牌：日本TECLOCK得乐 型号：SM-112AT 最小刻度：0.01mm 测量范围：10mm 指示误差(mm)：±15um 平行度：5um 表盘刻度：0-50-100 测量力：0.8以下 测头形状：Φ10平型 测砧形状：Φ10平型

SM-112FE日本TECLOCK厚度表测厚仪原装 品牌：日本TECLOCK得乐 型号：SM-112FE 最小刻度：0.01mm 测量范围：10mm 指示误差(mm)：±15um 平行度：5um 表盘刻度：0-50-100 测量力：2.5以下 测头形状：Φ10平型 测砧形状：Φ10平型

SM-112P日本TECLOCK厚度表测厚仪原装 品牌：日本TECLOCK得乐 型号：SM-112P 最小刻度：0.01mm 测量范围：10mm 指示误差(mm)：±15um 平行度：5um 表盘刻度：0-0.5-1 测量力：2.5以下 测头形状：Φ10平型 测砧形状：Φ10平型

SM-112日本TECLOCK厚度表测厚仪原装 型号：SM-112 最小刻度：0.01mm 测量范围：10mm 指示误差(mm)：±15um 平行度：5um 表盘刻度：0-50-100 测量力：2.5以下 测头形状：Φ10平型 测砧形状：Φ10平型