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表盘式镜片厚度测量仪日本TECLCOK得乐

表盘式镜片厚度测量仪日本TECLCOK得乐

更新时间:2023-10-14

产品型号:SM-112LW

厂商性质:经销商

生产地址:日本

产品报价:

产品特点:SM-112LW 表盘式镜片厚度测量仪日本TECLCOK得乐
型号:SM-112LW
测量范围:0〜10mm
最小刻度:0.01mm
测头:上、下均为3.2mm球形测头
主要用于测量镜片凹凸处的最大厚度

详细资料

SM-112LW 表盘式镜片厚度测量仪日本TECLCOK得乐

型号:SM-112LW

测量范围:0〜10mm

最小刻度:0.01mm

测头:上、下均为3.2mm球形测头

主要用于测量镜片凹凸处的最大厚度



表盘式厚度表 测头:


型号

小刻度
mm

测量范围
mm

精度
um

平面度
um

表盘刻度

测量力

上测头

下测头

SM-112

0.01

10

±15

5

0-50-100

2.5N以下

φ 10 Flat

φ 10 Flat

SM-112LS

0.01

10

±15

0-50-100

2.5N以下

φ 3.2 Ball

φ 10 Flat

SM-112LW

0.01

10

±15

0-50-100

2.5N以下

φ 3.2 Ball

φ 3.2 Ball

SM-112-3A

0.01

10

±15

5

0-50-100

2.5N以下

φ 5 Flat

φ 5 Flat

SM-112-80g

0.01

10

±15

5

0-50-100

停止点测量力0.8N±0.05

φ 10 Flat

φ 10 Flat

SM-112P

0.01

10

±15

5

0-0.5-1

2.5N以下

φ 10 Flat

φ 10 Flat

SM-112FE

0.01

10

±15

5

0-50-100

2.5N以下

φ 10 Flat

φ 10 Flat

SM-112AT

0.01

10

±15

8

0-50-100

0.8N以下

φ 10 Flat

φ 10 Flat

SM-112D

0.01

10

±15

5

0-50-100

2.5N以下

φ 10 Flat

φ 10 Flat

表盘式厚度表  型号:

SM-112、SM-112LS、SM-112LW、SM-112-3A、SM-112-80g、SM-112P、SM-112FE、SM-112AT、SM-112D


表盘式厚度表  别名:

表盘式厚度计、手握式厚度表、厚薄表、测厚计


表盘式厚度表  产品说明:

小刻度有0.01和0.001两种。

测量厚度可达50mm

部分量表采用陶瓷测头,与工作接触面为陶瓷,可延长使用寿命。另外,还有FE(材质为加硬SK4)和AT(材质为特殊镀层)可供选择。

根据测头的形状不同,可分为标准型和其它型,

标准型的测量力不超过2.5N,同时也可选用低测量力0.4N

SM-112LW 金属圆测头,测头尺寸¢3.2mm,用于测量金属片及不规则产品

表盘式厚度表  用途:

应用广泛,可测量纸张、头发、橡胶板、金属管、珍珠等的厚度。

SM-112LW 表盘式镜片厚度测量仪日本TECLCOK得乐

表盘式厚度表  实物照片:




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